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當前位置:首頁產(chǎn)品中心三維X射線顯微鏡(XRM)D8原位X射線衍射儀檢測

原位X射線衍射儀檢測
產(chǎn)品簡介

原位高低溫附件可以在材料合成過程中來觀察材料結(jié)構(gòu)變化,探索材料合成條件;也可以用來探測充放電到某個電位下材料隨溫度變換而產(chǎn)生的相應(yīng)的結(jié)構(gòu)變化,這對探討實際電池安全性產(chǎn)生的原因之一,即材料結(jié)構(gòu)變化引起的安全問題是一種重要的手段;科研支撐、變溫物相分析、變溫過程中的晶粒尺寸、晶型、晶胞參數(shù)及動力學(xué)分析;電池充放電物相分析、原位電化學(xué)反應(yīng)物相分析。原位X射線衍射儀檢測

產(chǎn)品型號:
更新時間:2024-09-12
廠商性質(zhì):代理商
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原位X射線衍射儀檢測

 

項目

細則

收費

說明

2Theta/Omega、 XRR、GID

薄膜樣品:每樣品測試不超 過 30 min;掃描時間大于 30min,延長時間按240 元/30min收費,不足30min 按 30min 計

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1.長時間數(shù)據(jù)手機(大于5h)、復(fù)雜樣品等特殊測試,價格需面議;

2.原位測試需提供測試方法

高溫測試

室溫至 1100℃,包含 2 個溫 度點,第二點后, 240元/測 試點 (校外 240 元/測試點)

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中低溫測試

-180 至 450℃,多溫度點測試 時第三個溫度起,以 240 元/ 測試點計,低溫測試液氮另加 30 元/時

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低溫測試

溫度起點低于-180℃,至 12K,多溫度點測試時第三個 溫度起,以 240元/測試點計

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電池充放電測試

變溫范圍:-25℃~+80℃, Peltier 變溫,包含 2 個測試 點,第二點后, 240 元/測試點

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原位電化學(xué)測試

包含 2 個測試點,第二測試點 以后, 240 元/測試點

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原位X射線衍射儀檢測.

儀器功能特點:

1- 高效的6KW TXS-HE轉(zhuǎn)靶光源,強度是封閉靶的5倍;

2- 入射光路三光路自動切換系統(tǒng):粉末衍射聚焦光路、薄膜反射、掠入射平行光路;高分辨光路:高分辨毛細管透射、反射、外延薄膜高分辨;

3- 探測器的開口大,適合測試速度快原位;配置準直器后開展二維衍射實時分析,還原原位二維信息;配備的高低溫系統(tǒng)可實時檢測反應(yīng)中結(jié)構(gòu)的演變過程;

4- 原位充放電、原位電化學(xué)附件更是快速準確地追溯揭示了phase transformation過程。

應(yīng)用范圍:

原位高低溫附件可以在材料合成過程中來觀察材料結(jié)構(gòu)變化,探索材料合成條件;也可以用來探測充放電到某個電位下材料隨溫度變換而產(chǎn)生的相應(yīng)的結(jié)構(gòu)變化,這對探討實際電池安全性產(chǎn)生的原因之一,即材料結(jié)構(gòu)變化引起的安全問題是一種重要的手段;

科研支撐

變溫物相分析

變溫過程中的晶粒尺寸、晶型、晶胞參數(shù)及動力學(xué)分析

分析、電池充放電物相分析、原位電化學(xué)反應(yīng)物相分析。

產(chǎn)業(yè)支撐

藥物作用機理及動力學(xué)分析、藥物理化性質(zhì)及穩(wěn)定性分析。

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